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介電常數(shù)測(cè)試儀使用方法(體積表面電阻率測(cè)試儀)

來(lái)源:技術(shù)文章    更新時(shí)間:2014-10-08    瀏覽:2343次

介電常數(shù)測(cè)試儀概述

介質(zhì)損耗測(cè)試裝置,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測(cè)試。

 

介電常數(shù)測(cè)試儀工作特性

  1. 平板電容器

極片尺寸:φ25.4mm

極片間距可調(diào)范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm

  1. 園筒電容器

電容量線性:0.33pF / mm±0.05 pF

長(zhǎng)度可調(diào)范圍和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm

3.  夾具插頭間距:25mm±1mm

4.  夾角損耗角正切值:≤4×104(1MHz時(shí))

 

介電常數(shù)測(cè)試儀工作原理

本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾持被測(cè)樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器,配用Q表作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。

 

介電常數(shù)測(cè)試儀使用方法

  1. 被測(cè)樣品的準(zhǔn)備

被測(cè)樣品要求為園形,直徑25.4~27mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間,如太薄或太厚則測(cè)試精度就會(huì)下降,樣品要盡可能平直。

下面推薦一種能提高測(cè)試性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的園形錫膜,直徑和平板電容器極片一致,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把

錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測(cè)樣品。

2. 測(cè)試順序

先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。

  1. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于zui小電容量,微調(diào)電容置于-3pF。
  2. 把本測(cè)試裝置插到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
  3. 配上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈
  4. 調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿,使二極片相接為止,讀取刻度值記為DO。
  5. 再松開(kāi)二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過(guò)緊或過(guò)松),這時(shí)能讀取新的刻度值,記為D1,這時(shí)樣品厚度D2= D1-D0。
  6. 把園筒電容器置于5mm處。
  7. 改變配合Q表頻率,使之諧振,讀得Q值。
  8. 先順時(shí)針?lè)较?,后逆時(shí)針?lè)较?,調(diào)節(jié)園筒電容器,讀取當(dāng)Q表指示Q值為原值的一半時(shí)測(cè)微桿上二個(gè)刻度值,取這二個(gè)值之差,記為M1。
  9. 再調(diào)節(jié)園筒電容器,使Q表再次諧振。
  10. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,調(diào)節(jié)平

板電容器,使再諧振,讀取測(cè)微桿上的讀值D3,其變化值為

D4= D3-D0。

  1. 和h款操作一樣,得到新的二個(gè)值之差,記為M2

3.  計(jì)算測(cè)試結(jié)果

被測(cè)樣品的介電常數(shù):

Σ=D2 / D4

被測(cè)樣品的損耗角正切值:

     tgδ=K(M1-M2 )/ 15.5

式中:K為園筒電容器線性變化率,一般為0.33 / mm,每個(gè)測(cè)試夾具在盒蓋內(nèi)標(biāo)有具體數(shù)值。

一般按以上公式計(jì)算的結(jié)果,其精度和重復(fù)性是能滿(mǎn)足的,但對(duì)介電常數(shù)大的被測(cè)樣品(即樣品從平板樣品放入和取出,平板電容器刻度值變化較大),邊緣效應(yīng)電容對(duì)測(cè)試會(huì)有較顯著的影響,這時(shí)可按下列公式計(jì)算:

Σ=(C2 + CF2-CF)/ C1

tgδ=K(M1-M2 )/ 3.46(C2 + CF2-CF)/ C1

式中:C1=D1刻度時(shí)平板電容器空氣介質(zhì)電容量〔見(jiàn)附圖(1)〕;

C2=D3刻度時(shí)平板電容器空氣介質(zhì)電容量〔見(jiàn)附圖(1)〕;

CF1=D1刻度時(shí)的邊緣效應(yīng)電容量〔見(jiàn)附圖(2)〕;

CF2=D3刻度時(shí)的邊緣效應(yīng)電容量〔見(jiàn)附圖(2)〕。

 

介電常數(shù)測(cè)試儀其他應(yīng)用使用方法

使用本測(cè)試裝置和Q表配用,對(duì)絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,列如:紙張、木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測(cè)量,其測(cè)試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用,采取被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。

測(cè)試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)Q表頻率,諧振后讀得Q值,再換上被測(cè)樣品,調(diào)節(jié)園筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說(shuō)明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品高頻損耗值一致,反之說(shuō)明二者性能有區(qū)別,如園筒電容器調(diào)節(jié)不能再諧振,通過(guò)調(diào)節(jié)Q表頻率才能諧振,且頻率變化較大,說(shuō)明被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。

 

 

介電常數(shù)測(cè)試儀維修方法

本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備,所以在使用和

保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶(hù)不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測(cè)試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo):

  1. 平板電容器二極片平行度不超過(guò)0.02mm。
  2. 園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過(guò)0.1mm。
  3. 保證二個(gè)測(cè)微桿0.01mm分辨率。
  4. 用精密電容測(cè)量?jī)x(±0.01pF分辨率)測(cè)量園筒電容器,電容呈線性率,從0~20mm,每隔1mm測(cè)試一點(diǎn),要求符合工作特性要求。

S914-FT1-BMP.bmp

 

 

S914-FT2-BMP.bmp

 

標(biāo)簽:

介電常數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

體積表面電阻率測(cè)試儀

體積電阻率測(cè)試儀

電壓擊穿試驗(yàn)儀

介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

過(guò)濾器完整性測(cè)試儀

TOC總有機(jī)碳分析儀

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