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發(fā)布時(shí)間: 2024-08-13
產(chǎn)品型號(hào): GDAT-A
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號(hào)
產(chǎn)品特點(diǎn): 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
BDAT-B型高壓電容電橋
主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。
主要可以測(cè)量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tg)和電容量( Cx)以,其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz,測(cè)試信號(hào)。
◎ 低至20nH殘余電感,保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置,能提高批量測(cè)試的可靠性和速度。
GDAT-a
直接測(cè)量范圍
1~460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準(zhǔn)確度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍
項(xiàng) 目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz~50MHz
頻率分段
(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
頻率指示誤差
3×10-5±1個(gè)字
Q合格指示預(yù)置功能
預(yù)置范圍:5~1000。
Q表正常工作條件
環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
相對(duì)濕度:<80%;
電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率:約25W;
凈重:約7kg;
外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品配置:
測(cè)試主機(jī)一臺(tái);
電感9只;
夾具一套
電感:
線圈號(hào) 測(cè)試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀術(shù)指標(biāo)
Q值測(cè)量
Q值測(cè)量范圍:2~1023。
Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
BH916介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置與C類Q表及電感器配用,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試注意事項(xiàng)
a.本儀器應(yīng)水平安放;
b.如果你需要較精確地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘;
c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開(kāi)關(guān)時(shí),當(dāng)接近諧振點(diǎn)時(shí)請(qǐng)緩調(diào);
d.被測(cè)件和測(cè)試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差;
e.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。
2.高頻線圈的Q值測(cè)量(基本測(cè)量法)